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芯片老化测试箱 BURN-IN OVEN
产品名称:

芯片老化测试箱 BURN-IN OVEN

上市日期: 2020-09-04

芯片老化测试箱用于对封装好的电路进行可靠性测试(Reliability T e s t ) , 它的主要目的是为了检出早期失效的器件,称为Infant Mortality。并进行失效机理分析,以便找出失效原因。

产品详情


芯片老化测试箱用于对封装好的电路进行可靠性测试(Reliability T e s t ) , 它的主要目的是为了检出早期失效的器件,称为Infant Mortality。并进行失效机理分析,以便找出失效原因。


产品特点

针对MEMORY、LOGIC、ASIC等产品的可靠性测试需求而设计; 针对各大晶圆厂、芯片设计公司实验室少量多样化,空间小的特殊需求,采用 独立的BY BOARD TG设计,每个SLOT都可单独使用,以提高效率; 专有的FLASH MEMORY(NAND、NOR、SPI),DDR MEMORY指令让程序开发更加快速高效;

DC POWER 采用高精度、高稳定性的可编程直流电源;

DUT POWER 采用三级供应方式,以达到最佳的稳定性和可靠性; 便捷的WINDOWS平台、USB通讯、具有极强的系统兼容性;


技术参数 

芯片老化测试箱 BURN-IN OVEN

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  • 发布时间: 2016 - 05 - 08
    本套测试系统满足DC-DC转换器所有的电气,安规等性能测试,能够快速提供准确的测试数据和判断标准。整套系统采用德国品质电源和负载,同时搭配一线品牌辅助测试设备,其高精度和稳定性能够使系统长时间稳定运行,同时保证测试结果的准确。
    提供手动和自动测试同时满足生产和研发的测试需求,同时根据客户需求提供设备定制服务。帮助客户提高生产效率,节约开发成本。满足标准:GB/T24347-2009《电动汽车DCDC变换器》GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法》GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法》GB/T 2423.17-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法》GB/T 2423.22-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法》GB/T 18384.1-2001 《电动汽车安全要求 第1部分:车载储能装置》GB/T 17619-1998 《机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法》QC/T413-2002《汽车电气设备基本技术条件》DC-DC标准测试功能项:动态响应时间测试峰值功率及持续时间测试额定功率测试效率测试可靠性测试耐压性测试输入电压和频率范围测试输入电源效应测试负载效应测试总效应测试限压特性和限流特性测试输入断电测试输入电压缓升/降测试输入频率缓升/降测试输入电源失真模拟保护功能测试(含输入过压保护、输入欠压保护、输出过流保护、短路保护、断电保护、温度保护等)高压电气性能测试(启动冲击电流、输出电压误差测试、输出电流误差)稳压精度试验、稳流精度试验功率因数及充电效率测试纹波噪声测试、纹波系数(含输出高压、低...
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